網站首頁
產品目錄
耀群提供微粒子計數器維修、校正之文件可追溯至ISO-9001
ASYS 專業服務
耀群全廠  品保 廠務  製程 系統及相關應用儀器解決項目
  消息
聯繫我們

產品目錄 

耀群QIII表面微粒子計數器 表面潔淨分析儀

  • 耀群QIII表面微粒子計數器 表面潔淨分析儀
  • 耀群QIII表面微粒子計數器 表面潔淨分析儀
  • 耀群QIII表面微粒子計數器 表面潔淨分析儀
  • 耀群QIII表面微粒子計數器 表面潔淨分析儀
  • 耀群QIII表面微粒子計數器 表面潔淨分析儀
型號︰QIII+ or Q3+
品牌︰Pentagon
原產地︰美國
單價︰-
最少訂量︰-

 共有 22 相關信息  
上一個56789下一個

產品描述

表面微粒密度驗證表面微粒子密度分析儀(表面清潔驗證)及產品資料
表面微粒子密度分析計數器
美國 Pentagon QIII max(0.3um) and QIII Ultra(0.1miron)
物體表面微粒子計數器產品目錄,對於做為表面微粒子檢測來說是必須的驗証工具且能夠使貴公司的客戶認可.
供您參考.我們是美國 Pentagon  中國區 的總代理商.

目前報價 約
Pentagon QIII max(0.3um) USD ex-work
Pentagon QIII Ultra(0.1miron)  USD ex-work
若要換算成RMB含  17%  (含進口關稅,運費保險,17% 增值稅 及相關進口費用)
 正式報價 以 詳細報價單為主

QIII Max /Ultra更新功能:
1. 新的取樣模式增加準確度
2. 7" 800X480大觸控螢幕 (QIII+ 6"觸控螢幕)
3. 改善取樣Probe插座.易拔插與更換
4. 二個使用者可換電池插座.可熱拔插 (原廠標配2顆電池.充電器選配)
5. 可利用USB下載資料
6. QIII Ultra 可量測到0.1Micron
以下為QIII Max &QIII Ultra 詳細粒徑分布:
QIII Max QIII Ultra
0.3um 0.1um
0.5um 0.2um
1.0um 0.3um
3.0um 0.5um
5.0um 1.0um
10.0um 5.0um

適合使用單位:
      適合客戶群:  包裝材料廠商: 如包裝材, 無塵紙,.....等
      藥廠設備機台裝表面清潔驗証: 理瓶區,灌裝機, 分裝機, 藥廠包裝材料廠商: 如包裝材,....

         無菌醫療機械初包裝潔淨度 T/CAMDI 009.1-2020  微粒汙染試驗方法 氣體吹脫法
       半導體黃光, 蝕刻製程, 零件清洗商,設備清潔維護, 光電廠, 玻璃基板廠等
        對曝光機; 顯影機 ,蝕刻, 黃光 及偏光板貼附機台效果顯着
         Capture filter 能收集particles 由EDX 或FTIR分析particle 成分。
         適合單位 : PVD, CVD, Photo, Ion Plant, YE, QA, QC ,  Microntation , Etch, Diffusion..

QIII+  , QIII ultra, QIII max, QIII LS,
QIII ST,  QIII SM,  QIII SX,

塗裝車間“潔淨度新標準 — ISO14644-9

產品規格︰表面潔淨度, 表面微粒密度驗證,表面微粒子密度分析儀(表面清潔驗證)及產品資料,
表面微粒子密度分析計數器
目台X電; 聯X電...等 皆選用此機型
提升良率; 確認wiper擦拭方式及機台保養是否達到清潔的效果
注意事項:
應用: IEST-CC-1246D
美國Pentagon Technologies針對從submicron至deep submicron (0.18, 0.13..) 的Production機台, 建立了特別的PM procedure可降低50% Test Wafer的消耗量及增加OEF(Overall Equipment Effectiveness), 其應用於各種Thin Film( PVD, CVD..), Etching and Diffusion Equipments. 以及工作台面積台表面潔淨度..等的驗証. 此已為目前機台維護作業時的標準工具之一.以及搭配MetOne Particle Counter對Mini-environment中量測particle, TRH, DP, velocity..的監視系統可幫助Module equipment, process engineer/manager瞭解contamination issue.
Pentagon Technologies 亦針對Fab整體的contamination可提供詳細的偵測及評估(曾在TSMC, UMC,ADM fab 25…)進而提高OFE (Overall Fab Effectiveness), 這可提供QA人員非常advanced的幫助。
產品優點︰適合使用單位: IEST-CC-1246D, ISO14644-9,
1.適合客戶群: 半導體黃光, 蝕刻製程, 零件清洗商,設備清潔維護, 光電廠, 玻璃基板廠等
2.Capture filter 能收集particles .由EDX 或FTIR分析particle 成分。
3.適合單位 : PVD, CVD, Photo, Ion Plant, YE, QA, QC , Microntation , Etch, Diffusion..
4.對曝光機; 顯影機 ,蝕刻, 黃光 及偏光板貼附機台效果顯著
QIII+ , QIII ultra, QIII max, QIII LS,
QIII ST, QIII SM, QIII SX,
無菌醫療機械初包裝潔淨度
T/CAMDI 009.1-2020
微粒汙染試驗方法 氣體吹脫法
塗裝車間“潔淨度新標準 — ISO14644-9
主要市場︰半導體黃光, 蝕刻製程, 零件清洗商,設備清潔維護, 光電廠, 玻璃基板廠等
產品圖片






相關產品
ASYS 脫膜液濃度管理裝置(ABB RMS在線化學品濃度計)針對 光電廠
ASYS 脫膜液濃度管理裝置(ABB RMS在線化學品濃度計)針對 光電廠
ABB LGR MA AMC TVOC懸浮分子污染物 即時線上監測系統
ABB LGR MA AMC TVOC懸浮分子污染物 即時線上監測系統
3D FPVS-PS可攜帶型微粒子視覺化儀 正負離子計數器
3D FPVS-PS可攜帶型微粒子視覺化儀 正負離子計數器
擦拭布潔淨度量測儀(濕式測法)
擦拭布潔淨度量測儀(濕式測法)




網站首頁  |  產品目錄  |  耀群提供微粒子計數器維修、校正之文件可追溯至ISO-9001  |  ASYS 專業服務  |  耀群全廠 品保 廠務 製程 系統及相關應用儀器解決項目  |  消息  |  聯繫我們  |  網站地圖  |  手機版
  繁體版     简体版     English